주사탐침현미경 [Scanning Probe Microscope]

1. 사업 개요

• 목적: 성균관대학교에서 연구·교육용으로 최신 주사탐침현미경(Scanning Probe Microscope, SPM)을 도입하여 고해상도 표면 분석 및 나노‑기술 실험을 지원한다.
• 범위: 규격과 가격을 동시에 만족하는 업체 중 예정가격 이하 최저가 낙찰자를 선정하는 전자입찰 방식으로 진행한다.
• 일정: 입찰등록 및 입찰 기간 2025‑08‑11(월) 14:00 ~ 2025‑08‑18(월) 14:00까지 나라장터에서 전자입찰을 개찰한다.

2. 주요 자격요건

• 나라장터 전자구매시스템 회원 등록·승인을 받은 업체만 참여 가능.
• 본교 재무회계 규정, 국가를 당사자로 하는 계약에 관한 법률·시행령 등 관련 법령에 따라 입찰 참가 자격이 제한·정지가 없는 사업자.
• 사업자등록증·통장사본을 전자첨부할 수 있는 자.
• 입찰보증보험증권(입찰금액의 5% 이상, 1개월) 제출이 가능한 자.
• 청렴계약 이행각서·입찰특별유의서에 서명·제출 가능한 자.

3. 핵심 기술·물품 요구사항

• 주사탐침현미경 전체 시스템(본체, 탐침, 제어·소프트웨어, 측정 모듈 등) 포함.
• 구성품별 규격·사양은 입찰 견적서에 상세히 명시해야 함(예: 스캔 범위, 해상도, 측정 속도, 탐침 종류 등).
• 최신 기술 사양(STM·AFM·MFM 등 다중 모드, 자동 교정, 고해상도 이미지 처리 등) 요구 여부는 견적서·사양서에서 확인 가능.
• 입찰보증보험: 입찰금액의 5% 이상, 보험기간 1개월(또는 납기일 + 60일) 수준으로 제공.
• 낙찰 후 계약이행 보증보험: 낙찰업체는 5일 이내에 **계약금액의 10%**에 해당하는 보증보험증권을 제출하며, 보험기간은 납기일 + 60일까지 유효해야 함.

4. 주의사항

• 전자입찰 시: 가격 입찰과 동시에 규격서·사양서·견적서·기타 구비 서류를 파일 형태로 반드시 첨부해야 하며, 2025‑08‑18(월) 14:00 마감 전까지 전자첨부가 완료돼야 응찰이 유효.
• 규격 미충족·서류 미비 시 낙찰자 선정이 취소될 수 있음.
• 낙찰 후: 본교가 요청하면 입찰 등록 서류 원본을 제출해야 함.
• 입찰 수수료: 계약 전 소정의 입찰 수수료가 발생할 수 있으니 사전에 확인 필요.
• 문의처
  • 구매·운영팀 김창연 선임: ☎031‑290‑5061
  • 규격·공동기기원 행정실 김재룡 책임: ☎031‑299‑6716
• 입찰공고 번호: 2‑20250723‑11
• 공고 일자: 2025‑08‑05

※ 위 내용은 공고문(첨부 문서)의 주요 항목을 요약한 것이며, 상세 규격·조건은 입찰 견적서 및 사양서에 명시된 내용을 반드시 확인하시기 바랍니다.