주사탐침현미경 [Scanning Probe Microscope]

안녕하세요, 공공조달 입찰 공고 분석 전문가입니다.

현재 요청해 주신 “주사탐침현미경 [Scanning Probe Microscope]” 공고에 대한 첨부 문서 내용이 화면에 표시되지 않아 구체적인 요구사항을 확인할 수 없습니다.
정확한 요약을 위해서는 아래와 같은 상세 내용이 필요합니다.

| 필요 정보 | 예시 |
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| 사업 목적 및 필요성 | 연구·교육용 AFM/STM 도입 배경, 활용 분야 등 |
| 구매 예산·예산 범위 | 총 예산, 물품·설치·보증·유지보수 포함 여부 |
| 입찰 방식 | 경쟁입찰, 제한입찰, 전자입찰 등 |
| 제출 서류·마감일 | 입찰서, 기술제안서, 가격제안서 등 제출 기한 |
| 주요 사양·기술 요구사항 | 해상도, 스캔 범위, 측정 속도, 환경 조건(진동·온도 등), 소프트웨어 호환성 등 |
| 자격 요건·우대조건 | 국내·외 인증(ISO, CE 등), 유사 실적, 특허 보유 여부 등 |
| 기타 특이 사항 | 현장 설치·시험, 교육·훈련, 보증 기간, 사후 관리 등 |

위 항목들을 포함한 전체 텍스트를 제공해 주시면 요청하신 포맷(## 1. 사업 개요, ## 2. 주요 자격요건, ## 3. 핵심 기술/물품 요구사항, ## 4. 주의사항)대로 정확하고 상세한 요약을 바로 작성해 드리겠습니다.

감사합니다.